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英國泰勒霍普森粗糙度儀DUO維修信息
點擊次數:61 更新時間:2025-09-28

DUO 采用接觸式測量技術,通過耐磨金剛石測針與被測表面直接接觸,結合高精度驅動裝置實現微米級精度檢測。測針在電機驅動下以 0.01mm/s 的恒速移動,垂直位移通過壓電傳感器轉化為電信號(靈敏度達 0.1nm/μV),經 16 位 ADC 模數轉換后,由內置微處理器按照 ISO 4287、ANSI B46.1 等國際標準算法實時計算,可同步輸出 Ra(輪廓算術平均偏差)、Rz(十點高度)、Rt(最大高度)等 10 余項參數。其測量分辨率達0.01μm,重復性精度為 ±10%,能夠滿足從超精密加工到常規工業生產的多樣化檢測需求。

一鍵多參量測量:通過集成化算法優化,DUO 實現單鍵觸發后 1.5 秒內完成全參數計算,2.4 英寸工業級 LCD 彩屏支持參數列表與輪廓圖形雙模式顯示,背光亮度可自動適應 0-5000lux 的環境光強,確保在不同光照條件下清晰讀取數據。

分體式模塊化結構:顯示控制單元與驅動單元通過磁吸式滑軌分離,可實現最大 50cm 的空間拓展,特別適用于深孔(≥300mm)、凹槽等復雜結構測量。配合專用延長桿,可完成盲孔底部粗糙度檢測,解決傳統儀器難以觸及的測量難題。


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